Кембридж, Великобритания, 8 Ноября 2018 — Компания XJTAG®, один из лидеров в области поставки программных и аппаратных решений для пограничного сканирования через интерфейс JTAG и предоставляющая высококвалифицированную техническую поддержку, объявляет о выходе версии 3.8. системы XJTAG.
Окно диаграмм сигналов (Waveform Viewer) теперь доступно из XJDeveloper, окно отображения топологии полностью было переписано, а алгоритмы покрытия платы тестами были улучшены.
Эта новейшая версия предлагает более интеллектуальную отладку, более понятное программирование и улучшенный анализ покрытия. Улучшен контроль над способом отображения данных. Так, теперь более наглядными стали детали операций с логическими блоками и записанные данные контактов.
Основные улучшения в версии 3.8:
1. Визуально выделенная отладка в Waveform Viewer
Ранее окно диаграмм сигналов (Waveform Viewer) было доступно только из XJAnalyser, теперь оно доступно и в XJDeveloper, что улучшает процесс отладки.
Значения на контактах микросхем, которые считываются или задаются соответствующими операторами в языке XJEase теперь могут быть отображены в окне диаграмм сигналов (Waveform Viewer), встроенном в XJTAG. Это является новым подходом к визуализации того, что XJTAG делает и того, как XJTAG обнаружил неисправность. Подробные диаграммы сигналов наиболее важных контактов позволяют не только отладить скрипт теста, но и сравнить их с диаграммами, приведёнными в документации на микросхему. В результате упрощается обнаружение как самих неисправностей, так и мест их возникновения.
2. Более плавная работа окна отображения топологии платы
Окно отображения топологии платы (Layout Viewer) теперь быстрее подгружает данные — файлы проекта открываются быстрее, а отображение платы стало более плавным. Увеличено разрешение при прорисовке платы, что облегчает инженерам работу.
Как полезное следствие — оптимизирована работа с файлом для XJRunner. Объём XJPack-фалов (в случае, если в них содержится топология платы) был уменьшен, возможность открывать старые XJPack-файлы при этом сохранена.
3. Улучшен анализ отчёта по покрытию
Отчёт по покрытию платы тестами теперь может быть проанализирован более детально, так как отчёт теперь связан с исходными данными более точно. XJDeveloper показывает теперь влияние включения или выключения одного или нескольких тестов.
Фактическое покрытие платы тестами конкретного проекта теперь можно сравнить с потенциальным покрытием. Таким образом, теперь можно выяснить, где покрытие может быть нужно улучшить, что является очень важной информацией для достижения наилучшего покрытия.
Ещё одним новшеством является возможность сформировать отчёт по покрытию в соответствии с индустриально-стандартизированным подходом к формированию отчёта по дефектам PCOLA/SOQ.
Влияние XJTAG v3.8
Начиная с версии XJTAG v3.8 не только программисты, но и конструктора могут при помощи инструмента Waveform Viewer легко визуализировать поведение схемы платы. Конструктора могут сэкономить много времени, вызывая дополнительную информацию по тем контактам микросхемы, где найдены неисправности, просматривая топологию при помощи интуитивно понятной навигации и точно оценивая покрытие тестами. XJTAG v3.8 теперь позволяет эффективнее и быстрее разрабатывать проект тестирования, благодаря улучшенной визуализации данных.
О компании XJTAG
Компания XJTAG является ведущим мировым поставщиком программных и аппаратных инструментов для работы с JTAG boundary-scan. Компания сфокусирована на разработке инновационных продуктов и технической поддержке высокого качества. Продукты XJTAG используют стандарт IEEE Std.1149.x (JTAG boundary-scan) для реализации функций быстрой и простой отладки, тестирования и программирования электронных схем. Это позволяет существенно ускорить процессы проектирования и производства. За дополнительной информацией о компании, её продуктах и услугах посетите, пожалуйста, сайт old.xjtag.com.
Иллюстрации (щёлкните мышкой для увеличения)
