XJTAG社 XTRシリーズを発表

XJTAG XTRは、複数のテストアクセスポート(TAP)をサポート。電圧・ピン配置・I/Oピンなどを自在に設定可能

XJTAG XTRは、電圧測定に加えて信号周波数測定可能な唯一つのJTAGプローブ

最新機能・使い勝手により開発工数を軽減するとともに試験装置の削減を支援

XJTAG XTRの無償評価版・セットアップを提供中

Cambridge, England, January 07, 2010 — XJTAG IEEE Std. 1149.x準拠のバウンダリスキャン開発システムの第一人者)は、バウンダリスキャンの第二世代となるXJTAG XTRシリーズを発表した。

このXJTAG XTRシリーズには既存のXJTAG開発システムに加え、複数JTAGチェイン対応、電圧・周波数測定など数々の新機能と使い勝手の強化が施された。

これらの機能は開発者、テスト担当者、OEM、製造請負企業の工数と経費の軽減や、試作基板のデバッグや量産基板のテストに必要となる試験装置の削減に寄与する。

“XJTAG XTR シリーズは機能と使い勝手が高度に改善され、電子実装基板やシステムのデバッグ・テスト・プログラミングをより効率的に行えるようになりました。これは顧客や代理店の声に耳を澄まし、弊社の第二世代となる製品システムが要求を満たすために傾注してきた結果です” – Simon Payne, XJTAG社 CEO

XJTAG XTR シリーズでは、基板上の最大４つまでの複数JTAGチェインをサポートする。そして最大18まで異なる電圧を測定できるようになり、様々な電源系統を有する基板の確認をJTAGテスト実行前、あるいはテスト中にも行えるので、電源に問題を抱える基板を事前にふるいわけることができるようになる。

またXTRシリーズは、クロック信号の周波数を最大200MHｚまで10ppmの精度で正確に測定できる唯一のJTAGインターフェイスであることを誇っている。ターゲット基板にクロック信号源が有る場合、有意義な機能となる。

またXJTAGではテストを実験室や現場でリモート実行できるように新しいXJLink2プローブ本体上にボタンを搭載し、またｘ３つのLEDによりステータスを確認できるようにした。XJLink2プローブ本体は黒と黄色の２色が選択可能で、色による使い分けを行えるようにしている。

加えてXTRシリーズではJTAGの最大TCKクロック166MHｚまで対応し、調整可能な終端、自動スキュー制御も備えている。またVMWare®など仮想マシン環境下での実行をサポート。新機能をサポートするための各種改善はXJDeveloper、XJRunner、XJEaseなどXJTAGシステムの全てのツールに施されている。

“XJTAG XTRシリーズによりあらゆる企業の開発・試験手法を変革することができます。それを証明するために、BGAなどを搭載する基板やシステムを開発・製造する全ての設計・開発者、OEM、製造請負企業に無償評価版を提供し、如何なる基板に対しても無償でセットアップをしてデモを行っています” – Simon Payne

XJTAG社への連絡は、XJTAG, St John’s Innovation Centre, Cowley Road, Cambridge CB4 0DS, UK。
電話 +44 (0) 1223 223007、fax +44 (0) 1223 223009、email enquiries@xjtag.com、old.xjtag.com.

国内連絡先は、富士設備工業株式会社電子機器事業部：〒591-8025 大阪府堺市長曽根町1928-1 電話 072 (252) 2128 www.fuji-setsu.co.jp email info@fuji-setsu.co.jp。

XJTAG社について (old.xjtag.com)

XJTAG社はIEEE 1149 standardsに準拠したバウンダリスキャン開発システムの第一人者です。XJTAG開発システムの機能により再利用可能なテストを早期に準備して、ハードウエアの開発・製造工数を軽減することができます。
SDRAM、Ethernetコントローラ、ビデオインターフェイス、Flashメモリ、FPGA、マイクロプロセッサなどJTAG対応・未対応の両デバイスのハードウエアデバッグとテストが、早期段階から迅速に行えること。加えてFPGA、CPLD、Flashメモリなどへのプログラミングもサポートしています。

XJTAGは英国ケンブリッジに本社を構え、代理店網により欧州・極東・北米・南米・中東・豪州地域でサービスを提供しています。